"关肇直系列讲座”之二:著名统计学家吴建福论 “从纳米实验到全局优化”

发布时间:2011-05-02  |  来源:图文/牛园园

4月28日,由系统科学研究所主办的2011年“关肇直”系列讲座第二讲在思源楼举行,美国国家工程院院士、著名统计学家吴建福受邀作了题为“Sequential Minimum Energy Designs: From Nano Experiments to Global Optimization”的精彩报告。在仪式上,系统所所长高小山研究员为吴建福教授颁发“关肇直讲座”证书。我院科研人员、研究生五十余人参加了报告会。报告会由质量科学研究中心主任于丹研究员主持。

 在报告中,吴建福教授介绍了他的研究团队提出的一种空间填充设计方法——序贯最小位能设计(SMED),该方法的提出是受纳米线合成问题的启发,旨在为复杂黑盒函数搜寻最优条件。他详细讲解了SMED这一新颖的实验设计生成方法,着重指出了SMED不依赖于模型、可快速消除无纳米结构观测区域、可搜寻复杂响应曲面、用于序贯实验的特点。同时他指出,这种方法亦可看做是对随机函数的序贯设计和对确定函数的全局优化。吴教授还特别提到了在佐治亚理工学院学习的统计室博士研究生庹睿在这一方向上具有创新性的研究成果。

吴建福教授是美国国家工程院院士、中国台湾“中研院”院士,现任美国乔治亚理工学院工业及系统工程系Coca Cola 讲座教授(2003~现在),加拿大滑铁卢大学统计及精算学系Adjunct讲座教授(1995~现在)。1987年,吴建福教授获得COPSS奖(国际统计学四十岁以下学者的最高成就奖)。2011年被授予 COPSS R.A. Fisher Lectureship荣誉(国际统计学者终身成就的最高荣誉)。他的研究成果涉及数理统计和工业统计的理论、方法及应用,是国际上极少数能在这两大领域的三方面都有杰出贡献的学者。他被公认为当代国际上在实验设计理论及科技、工业应用领域最有成就和影响最大的学者。

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